Atomic-scale electric capacitive change detected with a charge amplifier installed in a non-contact atomic force microscope
Atomic-scale electric capacitive change detected with a charge amplifier installed in a non-contact atomic force microscope
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使用安装在非接触式原子力显微镜中的电荷放大器检测原子尺度的电容变化
DOI:
10.7567/apex.9.046601
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发表时间:
2016
影响因子:
2.3
通讯作者:
Masahiko Tomitori
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Makoto Nogami;Akira Sasahara;Toyoko Arai;Masahiko Tomitori
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DOI:
--
发表时间:
1974
期刊:
影响因子:
--
作者:
S. Derenzo;T. Mast;H. Zaklad;R. Muller
通讯作者:
R. Muller
影响因子:
1.4
作者:
N. Nakagiri;Yamamoto Takuma;H. Sugimura;Yoshihiko Suzuki
通讯作者:
Yoshihiko Suzuki
影响因子:
1.5
作者:
A. Sasahara;H. Uetsuka;Hiroshi Onishi Hiroshi Onishi
通讯作者:
Hiroshi Onishi Hiroshi Onishi
影响因子:
8.6
作者:
志垣賢太;杉立徹;郡司卓;浜垣秀樹;江角晋一;三明康郎;Y. Cho and R. Hirose
通讯作者:
Y. Cho and R. Hirose
影响因子:
3.2
作者:
Kurokawa, S;Sakai, A
通讯作者:
Sakai, A