Atomic-scale electric capacitive change detected with a charge amplifier installed in a non-contact atomic force microscope

Atomic-scale electric capacitive change detected with a charge amplifier installed in a non-contact atomic force microscope
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使用安装在非接触式原子力显微镜中的电荷放大器检测原子尺度的电容变化

DOI:
10.7567/apex.9.046601
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发表时间:
2016
影响因子:
2.3
通讯作者:
Masahiko Tomitori
Masahiko Tomitori
中科院分区:
物理与天体物理3区
文献类型:
--
作者:
Makoto Nogami;Akira Sasahara;Toyoko Arai;Masahiko Tomitori

文献摘要

参考文献

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