Low-angle X-ray diffraction study on the relationship between crystallinity and properties of C_<60> FET
Low-angle X-ray diffraction study on the relationship between crystallinity and properties of C_<60> FET
复制标题
C_<60>场效应管结晶度与性能关系的低角X射线衍射研究
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Takata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.Ohashi;K.Tanigaki;R.Kumashiro;a,...;M.Takata
对“C60 薄膜在层状基板上的晶体生长”的评论 [Appl. 65, 378 (1994)]
DOI：
10.1063/1.112334
发表时间：
1994
期刊：
影响因子：
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作者：
K. Tanigaki;S. Kuroshima;J. Fujita;T. Ebbesen
通讯作者：
T. Ebbesen
C60 薄膜在 MoS2 劈面上的范德华外延生长
影响因子：
1.5
作者：
M. Sakurai;H. Tada;Koichiro Saiki Koichiro Saiki;Atsushi Koma Atsushi Koma
通讯作者：
Atsushi Koma Atsushi Koma