Liquid crystal electrography: Electric field mapping and detection of peak electric field strength in AlGaN/GaN high electron mobility transistors
Liquid crystal electrography: Electric field mapping and detection of peak electric field strength in AlGaN/GaN high electron mobility transistors
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液晶电成像：AlGaN/GaN 高电子迁移率晶体管中的电场映射和峰值电场强度检测
DOI：
10.1016/j.microrel.2014.01.006
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发表时间：
2014
影响因子：
1.6
通讯作者：
Möreke J
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Möreke J
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影响因子：
4.9
作者：
Kim, H;Thompson, RM;Eastman, LF
通讯作者：
Eastman, LF
DOI：
10.1002/pssa.201228395
发表时间：
2012-12
期刊：
physica status solidi (a)
影响因子：
--
作者：
J. Möreke;M. Ťapajna;M. Uren;Y. Pei;U. Mishra;M. Kuball
通讯作者：
J. Möreke;M. Ťapajna;M. Uren;Y. Pei;U. Mishra;M. Kuball
影响因子：
3.1
作者：
Uren, Michael J.;Moereke, Janina;Kuball, Martin
通讯作者：
Kuball, Martin
指向矢涨落对向列液晶电场相图的影响
DOI：
--
发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
--
作者：
S. Dhara;N. V. Madhusudana
通讯作者：
N. V. Madhusudana
影响因子：
4
作者：
M. M. Bajo-M.;C. Hodges;M. Uren;Martin Kuball
通讯作者：
M. M. Bajo-M.;C. Hodges;M. Uren;Martin Kuball