Measuring Code Optimization Impact on Voltage Noise

Measuring Code Optimization Impact on Voltage Noise
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测量代码优化对电压噪声的影响

DOI:
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发表时间:
2013
期刊:
Workshop on Silicon Errors in Logic - System Effects (SELSE)
影响因子:
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通讯作者:
Kanev S
Kanev S
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
Kanev S

文献摘要

参考文献

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DOI: 10.1109/jssc.2010.2089657
发表时间: 2011-01-01
影响因子: 5.4
作者:
Bowman, Keith A.;Tschanz, James W.;De, Vivek K.
通讯作者: De, Vivek K.