A 65nm Flip-Flop Array to Measure Soft Error Resiliency against High-Energy Neutron and Alpha Particles
A 65nm Flip-Flop Array to Measure Soft Error Resiliency against High-Energy Neutron and Alpha Particles
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用于测量针对高能中子和阿尔法粒子的软错误弹性的 65nm 触发器阵列
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小野寺
中科院分区：
文献类型：
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作者：
古田;濱中;小林;小野寺
基于 ARM926 SoC 的低功耗 MTCMOS 案例研究：设计、分析和测试挑战
DOI：
10.1109/test.2007.4437661
发表时间：
2007
期刊：
2007 IEEE International Test Conference
影响因子：
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作者：
Sachin Idgunji
通讯作者：
Sachin Idgunji