Determination of band alignment in two-dimensional h-BN/WS2 van der waals heterojunction by X-ray photoelectron spectroscopy
Determination of band alignment in two-dimensional h-BN/WS2 van der waals heterojunction by X-ray photoelectron spectroscopy
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X 射线光电子能谱测定二维 h-BN/WS2 范德华异质结中的能带排列
DOI：
10.1016/j.jallcom.2020.157301
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发表时间：
2021-02
影响因子：
6.2
通讯作者：
Yang Jianhong
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Xing Shu’an;Zhao Guijuan;Xu Yan;Wang Jie;Li Xunshuan;Yang Wenge;Liu Guipeng;Yang Jianhong
通过h-BN和WS2单层膜的叠层制备了二维h-BN/WS2范德华异质结，并用X射线光电子能谱（XPS）测量了h-BN/WS2异质结的价带偏移（VBO）。利用h-BN和WS_2单分子膜的禁带宽度和VBO的测量值来确定导带偏移（CBO）。VBO和CBO的测量结果分别为3.39 ± 0.15 eV和0.57 ± 0.15 eV，揭示了I型带排列。h-BN/WS2异质结能带取向参数的测量对于h-BN/WS2基器件的分析和设计具有重要意义。
We have fabricated two-dimensional h-BN/WS2van der Waals heterojunctions by stacking h-BN and WS2monolayers, and experimentally measured the valence band offset (VBO) of h-BN/WS2heterojunction by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The h-BN and WS2monolayers band gaps and the measured value of VBO were used to determine the conduction band offset (CBO). The measurement results of VBO and CBO are 3.39 ± 0.15 eV and 0.57 ± 0.15 eV, respectively, revealing a type-I band alignment. It is urgent to measure the band alignment parameters of h-BN/WS2heterojunctions for analyzing and designing h-BN/WS2based devices.
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影响因子：
3.2
作者：
Neeraj Goel;Rahul Kumar;Monu Mishra;Govind Gupta;Mahesh Kumar
通讯作者：
Neeraj Goel;Rahul Kumar;Monu Mishra;Govind Gupta;Mahesh Kumar
DOI：
10.1038/s43586-022-00151-5
发表时间：
2014-03
期刊：
Nature Reviews Methods Primers
影响因子：
--
作者：
R. Gorbachev
通讯作者：
R. Gorbachev
X 射线光电子能谱测量 MgO/TiO2（金红石）异质结的价带偏移
影响因子：
6.7
作者：
Wei, Hongyuan;Wang, Zhanguo;Zheng, Gaolin;Zhu, Qinsheng;Yang, Shaoyan;Guo, Yan;Liu, Xianglin;Yang, Anli;Wang, Jun;Song, Huaping;Jiao, Chunmei
通讯作者：
Jiao, Chunmei
DOI：
10.5772/intechopen.88433
发表时间：
2019-08
期刊：
Smart Nanosystems for Biomedicine, Optoelectronics and Catalysis
影响因子：
--
作者：
Hongcheng Ruan;Yu Huang;Yuqian Chen;F. Zhuge
通讯作者：
Hongcheng Ruan;Yu Huang;Yuqian Chen;F. Zhuge
DOI：
10.1088/0953-8984/16/12/025
发表时间：
2004-03
期刊：
Journal of Physics: Condensed Matter
影响因子：
--
作者：
P. Yen;Yen-Ru Huang;K. Tiong
通讯作者：
P. Yen;Yen-Ru Huang;K. Tiong