X-ray photoemission study of CeTIn5 (T = Co, Rh, Ir)
X-ray photoemission study of CeTIn5 (T = Co, Rh, Ir)
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CeTIn5 (T = Co、Rh、Ir) 的 X 射线光电子发射研究
DOI：
10.1088/0953-8984/26/20/205601
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
A Koitzsch
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
U. Treske;M. S. Khoshkhoo;F. Roth;M. Knupfer;E. D. Bauer;J. L. Sarrao;B. Büchner;A Koitzsch
我们使用温度和角度相关的 X 射线光电子能谱研究了 CeTIn 5 (T= Co、Rh、Ir)。 Ce 3d 核心水平对于所有三种材料具有非常相似的形状，并且表明弱 f 杂化。使用安德森杂质模型的简化版本对光谱进行分析，该模型产生大于 0.9 的 Ce 4f 占有率。温度依赖性表明，由于表面 Ce 的氧化，Ce 3d 峰出现连续、不可逆且排他性的展宽。
We investigated CeTIn 5 (T= Co, Rh, Ir) using temperature-and angle-dependent x-ray photoemission spectroscopy. The Ce 3d core level has a very similar shape for all three materials and is indicative of weak f-hybridization. The spectra were analyzed using a simplified version of the Anderson impurity model, which yields a Ce 4f occupancy that is larger than 0.9. The temperature dependence shows a continuous, irreversible and exclusive broadening of the Ce 3d peaks, due to oxidation of Ce at the surface.
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