A Short Survey at the Intersection of Reliability and Security in Processor Architecture Designs
A Short Survey at the Intersection of Reliability and Security in Processor Architecture Designs
复制标题
处理器架构设计中可靠性和安全性交叉点的简短调查
DOI：
10.1109/isvlsi.2018.00031
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Kinsy, Michel A.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Bu, Lake;Mark, Miguel;Kinsy, Michel A.
影响因子：
5.4
作者：
H. Kondo;S. Otani;M. Nakajima;O. Yamamoto;N. Masui;N. Okumura;M. Sakugawa;M. Kitao;K. Ishimi;Masayuki Sato;Fumitaka Fukuzawa;Satoshi Imasu-;N. Kinoshita;Y. Ota;K. Arimoto;Toru Shimizu
通讯作者：
H. Kondo;S. Otani;M. Nakajima;O. Yamamoto;N. Masui;N. Okumura;M. Sakugawa;M. Kitao;K. Ishimi;Masayuki Sato;Fumitaka Fukuzawa;Satoshi Imasu-;N. Kinoshita;Y. Ota;K. Arimoto;Toru Shimizu
IBM 4765 加密协处理器
DOI：
10.1147/jrd.2011.2178736
发表时间：
2012
期刊：
IBM J. Res. Dev.
影响因子：
--
作者：
T. W. Arnold;Carl U. Buscaglia;F. Chan;Vincenzo Condorelli;John C. Dayka;W. Santiago;Nihad Hadzic;Michael D. Hocker;M. Jordan;T. Morris;K. Werner
通讯作者：
K. Werner
将错误检测和在线重新配置纳入高级加密标准的常规架构中
DOI：
10.1109/dftvs.2005.41
发表时间：
2005
期刊：
20th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT'05)
影响因子：
--
作者：
L. Breveglieri;I. Koren;P. Maistri
通讯作者：
P. Maistri