Scan based process parameter estimation through path-delay inequalities
Scan based process parameter estimation through path-delay inequalities
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通过路径延迟不等式进行基于扫描的过程参数估计
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takashi Sato
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takumi Uezono;Tomoyuki Takahashi;Michihiro Shintani;Kazumi Hatayama;Kazuya Masu;Hiroyuki Ochi;Takashi Sato
版图对90nm CMOS工艺参数波动的影响
DOI：
10.1109/vlsic.2006.1705316
发表时间：
2006
期刊：
2006 Symposium on VLSI Circuits, 2006. Digest of Technical Papers.
影响因子：
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作者：
Liang;B. Nikolić
通讯作者：
B. Nikolić