A valence-selective X-ray fluorescence holography study of an yttrium oxide thin film
A valence-selective X-ray fluorescence holography study of an yttrium oxide thin film
复制标题
氧化钇薄膜的价选择性 X 射线荧光全息研究
DOI：
10.1107/s1600576717012821
复制
发表时间：
2017
影响因子：
6.1
通讯作者：
Hayashi K.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Stellhorn J. R.;Hosokawa S.;Happo N.;Tajiri H.;Matsushita T.;Kaminaga K.;Fukumura T.;Hasegawa T.;Hayashi K.
The first direct valence-selective structure determination by X-ray fluorescence holography is reported. The method is applied to investigate an epitaxial thin film of the rare earth monoxide YO, which has recently been synthesized by pulsed laser deposition. The surface of the sample is easily oxidized to Y2O3. In order to separate the structural information connected with the two different valence states of Y, the X-ray fluorescence holography measurements were performed close to the Y K absorption edge. Using the shift of the absorption edge for the different valence states, very different relative contributions of YO and Y2O3 are obtained. Thus, it is possible to distinguish the crystal structures of YO and Y2O3 in the thin-film sample.
登录
查看更多内容
开发一种新的共振 X 射线散射全息方法
影响因子：
5.5
作者：
Y. Takahashi;K. Hayashi;E. Matsubara
通讯作者：
E. Matsubara
晶体晶胞中杂质的傅里叶变换成像：GaAs 中的 Mn
影响因子：
3.7
作者：
T.;C. Bihler;W. Schoch;W. Limmer;J. Daeubler;S. Thiess;M. Brandt;J. Zegenhagen
通讯作者：
J. Zegenhagen
使用 L1 正则化线性回归从原子分辨率全息重建原子图像
影响因子：
0.7
作者：
T. Matsushita
通讯作者：
T. Matsushita
使用平移对称性的原子分辨率全息重建算法
DOI：
--
发表时间：
2008
期刊：
Phys. Rev. B 78
影响因子：
--
作者：
T. Matsushita;F. Z. Guo;M. Suzuki;F. Matsui;H. Daimon;K. Hayashi
通讯作者：
K. Hayashi
吸收白色 X 射线的定向精细结构：断层扫描解释
影响因子：
3.7
作者：
P. Korecki;M. Tolkiehn;D. Novikov;G. Materlik;M. Szymoński
通讯作者：
M. Szymoński