An excess noise measurement system for weak responsivity avalanche photodiodes
An excess noise measurement system for weak responsivity avalanche photodiodes
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弱响应度雪崩光电二极管的过量噪声测量系统
DOI：
10.1088/1361-6501/aabc8b
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发表时间：
2018
影响因子：
2.4
通讯作者：
Qiao L
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Qiao L
本文介绍了一种基于相敏检测的雪崩光电二极管（apd）前置跨阻放大器，在减小光电流的情况下，测量与增益相关的过量噪声的系统。该系统可以可靠地测量器件的多余噪声功率，即使在未倍增光电流较低（~ 10na）的情况下。这比以前报道的系统好一个数量级以上，并且代表了显着更好的噪声信噪比。这种性能的改进是通过增加反馈电阻的值和减少运放带宽来实现的。利用如此低的光电流表征APD性能的能力，可以使用低功率光源（如发光二极管）而不是激光来研究APD噪声性能。
A system for measuring, with reduced photocurrent, the excess noise associated with the gain in avalanche photodiodes (APDs), using a transimpedance amplifier front-end and based on phase-sensitive detection is described. The system can reliably measure the excess noise power of devices, even when the un-multiplied photocurrent is low (~ 10 nA). This is more than one order of magnitude better than previously reported systems and represents a significantly better noise signal to noise ratio. This improvement in performance has been achieved by increasing the value of the feedback resistor and reducing the op-amp bandwidth. The ability to characterise APD performance with such low photocurrents enables the use of low power light sources such as light emitting diode rather than lasers to investigate the APD noise performance.
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