Combined atomic force microscopy and voltage pulse technique to accurately measure electrostatic force
Combined atomic force microscopy and voltage pulse technique to accurately measure electrostatic force
复制标题
结合原子力显微镜和电压脉冲技术来精确测量静电力
DOI：
10.7567/jjap.55.08nb05
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发表时间：
2016
影响因子：
1.5
通讯作者：
and Y. Sugimoto
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
E. Inami;and Y. Sugimoto
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