Business Process Modeling for Semiconductor Production Risk Analysis Using IDEF0
Business Process Modeling for Semiconductor Production Risk Analysis Using IDEF0
复制标题
使用 IDEF0 进行半导体生产风险分析的业务流程建模
DOI：
10.1109/emr.2022.3230374
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发表时间：
2023
影响因子：
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通讯作者：
Lambert, James H.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Collier, Zachary A.;Gaskins, Andrew;Lambert, James H.
基于模型的系统工程的集成智能建模和仿真语言
影响因子：
15.7
作者：
Lin Zhang;Fei Ye;Kunyu Xie;Pengfei Gu;Xiaohan Wang;Y. Laili;Chun Zhao;Xuesong Zhang;Minjie Chen;Tingyu Lin;Zhen Chen
通讯作者：
Zhen Chen
影响因子：
2
作者：
J. Lambert;R. K. Jennings;N. Joshi
通讯作者：
N. Joshi
IDEF 语言家族
DOI：
--
发表时间：
1998
期刊：
影响因子：
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作者：
Christopher Menzel;R. Mayer
通讯作者：
R. Mayer