Novel technique for measurement of coating layer thickness of fine and porous particles using focused ion beam
Novel technique for measurement of coating layer thickness of fine and porous particles using focused ion beam
复制标题
使用聚焦离子束测量细小和多孔颗粒涂层厚度的新技术
DOI：
10.1016/j.partic.2018.03.002
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发表时间：
--
期刊：
影响因子：
3.5
通讯作者：
S. Heinrich
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M. Goslinska;I. Selmer;C. Kleemann;U. Kulozik;I. Smirnova;S. Heinrich
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影响因子：
3.3
作者：
Jin-yu Zhang;Xiang-bin Meng;Yong-chao Ma
通讯作者：
Jin-yu Zhang;Xiang-bin Meng;Yong-chao Ma
影响因子：
5.2
作者：
E. Eichner;V. Salikov;P. Bassen;S. Heinrich;G. Schneider
通讯作者：
E. Eichner;V. Salikov;P. Bassen;S. Heinrich;G. Schneider
影响因子：
4.6
作者：
Subrahmanyam, Raman;Gurikov, Pavel;Smirnova, Irma
通讯作者：
Smirnova, Irma
影响因子：
2.1
作者：
A. Markowski;W. Kaminski
通讯作者：
W. Kaminski
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影响因子：
5.2
作者：
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通讯作者：
J.A.M. Kuipers