Atomic imaging in EBCO superconductor films by an X-ray holography system using a toroidally bent graphite analyzer

Atomic imaging in EBCO superconductor films by an X-ray holography system using a toroidally bent graphite analyzer
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使用环形弯曲石墨分析仪通过 X 射线全息系统对 EBCO 超导薄膜进行原子成像

DOI:
--
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发表时间:
2005
期刊:
Journal of Synchrotron Radiation 12
影响因子:
--
通讯作者:
T.Sekioka et al.
T.Sekioka et al.
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Y.Takahashi et al.;T.Sekioka et al.

文献摘要

参考文献

被引文献

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