Atomic imaging in EBCO superconductor films by an X-ray holography system using a toroidally bent graphite analyzer
Atomic imaging in EBCO superconductor films by an X-ray holography system using a toroidally bent graphite analyzer
复制标题
使用环形弯曲石墨分析仪通过 X 射线全息系统对 EBCO 超导薄膜进行原子成像
DOI:
--
复制
发表时间:
2005
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
T.Sekioka et al.
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Y.Takahashi et al.;T.Sekioka et al.
登录
查看更多内容
影响因子:
8.6
作者:
Gog, T;Len, PM;SanchezHanke, C
通讯作者:
SanchezHanke, C
DOI:
10.1016/s0168-583x(98)00446-7
发表时间:
1998
期刊:
影响因子:
--
作者:
A. Iwase;N. Ishikawa;Y. Chimi;K. Tsuru;H. Wakana;O. Michikami;T. Kambara
通讯作者:
T. Kambara
影响因子:
6
作者:
Yukio Takahashi;K. Hayashi;E. Matsubara;T. Shima;K. Takanashi;T. Mori;M. Tanaka
通讯作者:
M. Tanaka
影响因子:
8.6
作者:
G. Harp;D. Saldin;B. Tonner
通讯作者:
B. Tonner