Improving lateral resolution of ambient electrostatic force microscopy by intermittent contact method
Improving lateral resolution of ambient electrostatic force microscopy by intermittent contact method
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通过间歇接触法提高环境静电力显微镜的横向分辨率
DOI：
10.1080/10584587.2016.1163200
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发表时间：
2016-02
影响因子：
0.7
通讯作者：
Chen Dihu
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Liu Dongzi;Ding Xidong;Xu Honglei;Lin Guocong;Chen Dihu
静电力显微镜(EFM)包括其衍生的开尔文探针力显微镜，被广泛用于研究介观/纳米级导电/半导体结构和电相互作用。然而，EFM的分辨率在
ABSTRACT Electrostatic force microscopy (EFM) including its derivative, Kelvin probe force microscopy, is widely used to investigate mesoscopic/nanoscopic conducting/semiconducting structures and electrical interactions. However, the resolution of EFM in
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影响因子：
3.5
作者：
C. Martin-Olmos;A. Stieg;J. Gimzewski
通讯作者：
C. Martin-Olmos;A. Stieg;J. Gimzewski
影响因子：
--
作者：
Zhenhua Sun;Zhi Yang;Jianhua Zhou;M. H. Yeung;Weihai Ni;Hongkai Wu;Jianfang Wang
通讯作者：
Zhenhua Sun;Zhi Yang;Jianhua Zhou;M. H. Yeung;Weihai Ni;Hongkai Wu;Jianfang Wang
影响因子：
3.2
作者：
Jacobs, HO;Leuchtmann, P;Stemmer, A
通讯作者：
Stemmer, A
影响因子：
3.5
作者：
E. Palacios-Lidón;B. Pérez-García;J. Colchero
通讯作者：
E. Palacios-Lidón;B. Pérez-García;J. Colchero
影响因子：
3.5
作者：
Stark, Robert W.;Naujoks, Nicola;Stemmer, Andreas
通讯作者：
Stemmer, Andreas