Long-term test of a stacked CdTe mini-HXI setup
Long-term test of a stacked CdTe mini-HXI setup
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堆叠 CdTe mini-HXI 设置的长期测试
DOI：
10.1016/j.nima.2017.11.035
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Boatella Polo Cesar
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Maier Daniel;Horeau Benoit;Laurent Philippe;Limousin Olivier;Renaud Diana;Kawaharada Madoka;Kokubun Motohide;Sato Goro;Takahashi Tadayuki;Watanabe Shin;Nakazawa Kazuhiro;Boatella Polo Cesar
这项工作提出了一个长期运行的两个堆叠的碲化镉双面条探测器，与碲化镉探测器机载瞳的HXI。该测试的目的是研究探测器在一年运行周期内光谱性能的演变，该周期类似于Hitomi HXI的在轨运行周期。CdTe内部的晶体缺陷导致晶体的光谱性能（偏振效应）的劣化，这在检测器操作期间变得更差。为了防止晶体极化，检测器每天重置一次（耗尽电压的关闭）。我们的主要研究是研究复位过程中不完全去极化是否会导致长期退化。我们介绍了用于研究每天和整个测试期间检测器稳定性的硬件设置和分析步骤。对于阳极信号，我们的结果显示，在60 keV时：日线漂移为（-2。8±0。7)eV/ks，而长期漂移为（-1。5±1。2)eV/天。能量分辨率的退化被测量为（+ 2。4±0。3)eV/ks FWHM，效率损失为（− 0. 29±0。02）%/ks。
This work presents a long-term operation of two stacked CdTe double sided strip detectors that are comparable with the CdTe detectors onboard Hitomi’s HXI. The goal of this test is to study the evolution of the spectroscopic performance of the detectors during a one year operation cycle which resembles the in-orbit operation cycle of Hitomi HXI. Crystal defects inside CdTe cause a degradation of the spectroscopic performance (polarization effect) of the crystal which is becoming worse during detector operation. In order to prevent crystal polarization, the detectors are reset (switch-off of the depletion voltage) once a day. Our main investigation was to study if a long-term degradation can occur as a result of incomplete depolarization during the reset. We present the hardware setup and the analytical steps that were used to investigate the detector stability during each day and over the whole testing period. For the anode signals our results show at 60 keV: a daily line drift of (− 2. 8±0. 7) eV/ks while the long-term drift is (− 1. 5±1. 2) eV/day. The degradation of the energy resolution is measured to be (+ 2. 4±0. 3) eV/ks FWHM and the loss of efficiency is (− 0. 29±0. 02)%/ks.
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