A Debugging Method for Gate Level Circuit Designs by Introducing Programmability
A Debugging Method for Gate Level Circuit Designs by Introducing Programmability
复制标题
引入可编程性的门级电路设计调试方法
DOI：
--
复制
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and M. Fujita
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Oshima;T. Matsumoto;and M. Fujita
基于SAT的带LUT插入的组合电路自动校正与调试
影响因子：
--
作者：
S. Jo;T. Matsumoto;and M. Fujita
通讯作者：
and M. Fujita