SAT-based automatic rectification and debugging of combinational circuits with LUT insertions
SAT-based automatic rectification and debugging of combinational circuits with LUT insertions
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基于SAT的带LUT插入的组合电路自动校正与调试
DOI：
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发表时间：
2014
影响因子：
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通讯作者：
and M. Fujita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Jo;T. Matsumoto;and M. Fujita
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DeltaSyn：用于 ECO 综合的高效逻辑差异优化器
DOI：
10.1145/1687399.1687546
发表时间：
2009
期刊：
2009 IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design - Digest of Technical Papers
影响因子：
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作者：
Smita Krishnaswamy;Haoxing Ren;Nilesh A. Modi;R. Puri
通讯作者：
R. Puri
DOI：
10.1109/edac.1993.386497
发表时间：
1993
期刊：
1993 European Conference on Design Automation with the European Event in ASIC Design
影响因子：
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作者：
M. Fujita
通讯作者：
M. Fujita
DOI：
10.1145/217474.217564
发表时间：
1995
期刊：
32nd Design Automation Conference
影响因子：
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作者：
J. Jain;R. Mukherjee;M. Fujita
通讯作者：
M. Fujita
使用布尔可满足性进行故障诊断和逻辑调试
DOI：
10.1109/mtv.2003.1250264
发表时间：
2003
期刊：
Proceedings. 4th International Workshop on Microprocessor Test and Verification - Common Challenges and Solutions
影响因子：
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作者：
A. Veneris
通讯作者：
A. Veneris
第七次 QBF 求解器评估 (QBFEVAL10)
DOI：
10.1007/978-3-642-14186-7_20
发表时间：
2010
期刊：
J. Satisf. Boolean Model. Comput.
影响因子：
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作者：
Claudia Peschiera;Luca Pulina;A. Tacchella;Uwe Bubeck;O. Kullmann;I. Lynce
通讯作者：
I. Lynce