Investigation about I-V characteristics in a new electronic structure model of the Ohmic contact for future nano-scale Ohmic contact

Investigation about I-V characteristics in a new electronic structure model of the Ohmic contact for future nano-scale Ohmic contact
复制标题

针对未来纳米级欧姆接触的新型欧姆接触电子结构模型中的 I-V 特性研究

DOI:
--
复制
发表时间:
2011
期刊:
Key Engineering Materials
影响因子:
--
通讯作者:
K.Shiraishi
K.Shiraishi
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Y.Takada;M.Muraguchi;T.Endoh;S.Nomura;K.Shiraishi

文献摘要

参考文献

相似文献

AlGaAs/GaAs 异质结构欧姆接触的物理和电气研究
DOI: 10.1063/1.357908
发表时间: 1994
期刊:
影响因子: --
作者:
Richard Taylor;P. Coleridge;M. Davies;Y. Feng;J. McCaffrey;P. Marshall
通讯作者: P. Marshall
亚微米长度尺度的 AlGaAs/GaAs 异质结构中二维电子系统的合金欧姆接触
DOI: 10.1016/j.physe.2007.09.115
发表时间: 2008
影响因子: 3.3
作者:
O. Göktaş;J. Weber;J. Weis;K. Klitzing
通讯作者: K. Klitzing
AlGaN∕GaN异质结构上的低接触电阻和光滑表面Ti∕Al∕Nb∕Au欧姆电极
DOI: 10.1063/1.1810210
发表时间: 2004
期刊:
影响因子: --
作者:
T. Nakayama;H. Miyamoto;Y. Ando;Y. Okamoto;T. Inoue;K. Hataya;M. Kuzuhara
通讯作者: M. Kuzuhara