Investigation about I-V characteristics in a new electronic structure model of the Ohmic contact for future nano-scale Ohmic contact
Investigation about I-V characteristics in a new electronic structure model of the Ohmic contact for future nano-scale Ohmic contact
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针对未来纳米级欧姆接触的新型欧姆接触电子结构模型中的 I-V 特性研究
DOI:
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发表时间:
2011
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
K.Shiraishi
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Y.Takada;M.Muraguchi;T.Endoh;S.Nomura;K.Shiraishi
DOI:
10.1063/1.357908
发表时间:
1994
期刊:
影响因子:
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作者:
Richard Taylor;P. Coleridge;M. Davies;Y. Feng;J. McCaffrey;P. Marshall
通讯作者:
P. Marshall
影响因子:
3.3
作者:
O. Göktaş;J. Weber;J. Weis;K. Klitzing
通讯作者:
K. Klitzing
DOI:
10.1063/1.1810210
发表时间:
2004
期刊:
影响因子:
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作者:
T. Nakayama;H. Miyamoto;Y. Ando;Y. Okamoto;T. Inoue;K. Hataya;M. Kuzuhara
通讯作者:
M. Kuzuhara