Direct measurement of electrical double layer in a nanochannel by electrical impedance spectroscopy

Direct measurement of electrical double layer in a nanochannel by electrical impedance spectroscopy
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通过电阻抗光谱法直接测量纳米通道中的双电层

DOI:
--
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发表时间:
2013
影响因子:
2.8
通讯作者:
T. Yamamoto
T. Yamamoto
中科院分区:
工程技术3区
文献类型:
--
作者:
R. Hatsuki;Y. Fuchigami;T. Yamamoto

文献摘要

参考文献

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DOI: 10.1007/s00542-011-1320-0
发表时间: 2011
期刊: Microsystem Technologies
影响因子: --
作者:
A. Afanasiev;I. Lähdesmäki;B. Parviz
通讯作者: B. Parviz