Improved Height Measurement of Single CdSe Colloidal Quantum Dots by Contact-mode Atomic Force Microscopy Using Carbon Nano-Tube Tips ; for the Investigation of Current-Voltage Characteristics
Improved Height Measurement of Single CdSe Colloidal Quantum Dots by Contact-mode Atomic Force Microscopy Using Carbon Nano-Tube Tips ; for the Investigation of Current-Voltage Characteristics
复制标题
使用碳纳米管尖端的接触式原子力显微镜改进了单个 CdSe 胶体量子点的高度测量；
DOI：
--
复制
发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Itaru Kamiya
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Ichiro Tanaka;Kaori Kajimoto;Kazuyuki Uno;Osamu Otsuki;Tomohide Murase;Harumi Asami;Masahiko Hara;Itaru Kamiya
CdSe 胶体纳米点的导电尖端原子力显微镜
DOI：
--
发表时间：
2003
期刊：
Surface Science 532-535
影响因子：
--
作者：
Ichiro Tanaka;Eri Kawasaki;O.Ohtsuki;K.Uno;M.Hara;H.Asami;I.Kamiya
通讯作者：
I.Kamiya
基于半导体纳米晶体薄膜的激发时间依赖性发光的光学存储介质
影响因子：
1.5
作者：
S. Maenosono;C. Dushkin;S. Saita;Y. Yamaguchi
通讯作者：
Y. Yamaguchi