Modification of a SAXS camera to study structures on multiple scales
Modification of a SAXS camera to study structures on multiple scales
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修改 SAXS 相机以研究多个尺度的结构
DOI：
10.1007/s11051-017-4017-1
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发表时间：
2017
影响因子：
2.5
通讯作者：
H. Nirschl
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
A. Gutsche;M. Meier;X. Guo;J. Ungerer;H. Nirschl
对紧凑型小角X射线散射(SAXS)相机进行了改进，以覆盖比传统实验室设备通常覆盖的尺寸范围大得多的尺寸范围。开发了一种新的外壳，具有更大的样品到探测器的距离(230m→和1300m mm)，并安装了新的聚焦Göbel镜，以提供检测非常接近主光束的散射强度所需的更窄的光束宽度。一种新型的光子计数探测器用于探测小散射矢量处的强度，而成像板探测器用于同时采集高达90°的大散射角的数据。分别基于光线跟踪模拟和SAXS测量，展示和讨论了该相机的相关特性。最小散射向量可减小10倍至0.008 nm−1的值，对应于尺寸最大为1780 nm的结构。对选定的颗粒系统的结构分析表明，改进后的相机能够在多个尺度上探测各种结构参数，例如微晶尺寸、初级颗粒尺寸、集合体尺寸和分维。改进后的摄像系统在粒子形成和生长/聚集机制的结构研究中很有希望，因为它提供了从埃到几百纳米的多个尺度的信息。
A compact small-angle X-ray scattering (SAXS) camera was modified in order to cover a significantly wider size range than that typically covered by conventional lab-based devices. A new housing with a larger sample-to-detector distance (230 → 1300 mm) was developed and a new focusing Göbel mirror was installed to provide a narrower beam width needed to detect scattering intensities very close to the primary beam. A new photon-counting detector was applied to probe the intensity at small scattering vectors while an imaging plate detector serves to simultaneously collect data at large scattering angles up to 90°. The relevant features of the camera are shown and discussed based on raytracing simulations and SAXS measurements, respectively. The minimum scattering vector could be decreased by a factor of 10 to a value of 0.008 nm−1corresponding to structures up to 780 nm in size. Structural analyses of selected particle systems demonstrate ability of the modified camera to probe various structural parameters on multiple scales, e.g., crystallite size, primary particle size, aggregate size, and fractal dimensions. The modified camera system is promising for structural studies of particle formation and growth/aggregation mechanisms since it provides information on multiple scales ranging from angstroms to several hundred nanometers.
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DOI：
10.1021/je60044a003
发表时间：
1970-01-01
期刊：
JOURNAL OF CHEMICAL AND ENGINEERING DATA
影响因子：
--
作者：
KELL, GS
通讯作者：
KELL, GS
影响因子：
3.2
作者：
M. Sztucki;T. Narayanan;G. Beaucage
通讯作者：
M. Sztucki;T. Narayanan;G. Beaucage
使用成像板探测器通过实验室小角度 X 射线散射相机探测绝对散射强度
影响因子：
6.1
作者：
A. Gutsche;N. Dingenouts;Xiaoai Guo;M. Meier;H. Nirschl
通讯作者：
H. Nirschl
胶体 SiO2 Stöber 多重态形成的小角 X 射线散射研究
DOI：
--
发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
--
作者：
V. Goertz;A. Gutsche;N. Dingenouts;H. Nirschl
通讯作者：
H. Nirschl
影响因子：
2.5
作者：
A. Gutsche;Alexander Daikeler;Xiaoai Guo;N. Dingenouts;H. Nirschl
通讯作者：
A. Gutsche;Alexander Daikeler;Xiaoai Guo;N. Dingenouts;H. Nirschl