Switching Region Analysis for SOTB Technology
Switching Region Analysis for SOTB Technology
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SOTB 技术的开关区域分析
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发表时间:
2017
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
H.Amano
中科院分区:
文献类型:
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作者:
C.Cortes;H.Amano
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DOI:
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发表时间:
2016
期刊:
影响因子:
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作者:
Hosono;T.;Lorphensriand;O.;Onodera;S.;Okawa;H.;Nakano;T.;Yamanaka;T.;Tsujimura;M.;Taniguchi;M.;小島 康平,佐藤 高志,有江 浩明,Alexander SCHMITZ,岩田 浩康,菅野 重樹;Johannes M. Kuehn
通讯作者:
Johannes M. Kuehn
DOI:
10.1145/2593069.2593185
发表时间:
2014
期刊:
2014 51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC)
影响因子:
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作者:
Y. Akgul;D. Puschini;S. Lesecq;E. Beigné;I. Panades;P. Benoit;L. Torres
通讯作者:
L. Torres
DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
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作者:
川上和人;青山夕貴子;那須義次;坂井 誠;Masaaki Kondo
通讯作者:
Masaaki Kondo
DOI:
10.1109/asscc.2009.5357257
发表时间:
2009
期刊:
2009 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference
影响因子:
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作者:
Daisuke Ikebuchi;Naomi Seki;Y. Kojima;M. Kamata;L. Zhao;Hideharu Amano;T. Shirai;S. Koyama;T. Hashida;Y. Umahashi;H. Masuda;K. Usami;S. Takeda;Hiroshi Nakamura;M. Namiki;Masaaki Kondo
通讯作者:
Masaaki Kondo
DOI:
10.5772/114
发表时间:
2010
期刊:
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影响因子:
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作者:
J. Swart
通讯作者:
J. Swart