Single and double over-barrier ionization of He, He+ and Ne system by positron impact
Single and double over-barrier ionization of He, He+ and Ne system by positron impact
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正电子碰撞He、He、Ne系统的单、双过势垒电离
DOI：
10.1140/epjd/e2017-70500-9
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发表时间：
2017-06
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Jianxiong Shao
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Aixiang Yang;Ning Zhang;Binghui Zhu;Xianrong Zou;Ximeng Chen;Jianxiong Shao
摘要
利用经典的过势垒电离模型（COBI）方法和轨道计算，模拟了He+离子与正电子碰撞的电离过程。计算的He~+电离截面与其它理论数据一致。此外，我们还发现He的双电离与正电子-He~+碰撞有一定的联系。这一结果可以解释为什么在我们以前的研究中，双电离的He似乎被He+的其余部分正电子散射。COBI模型也被扩展到研究正电子-Ne碰撞引起的双电离。我们的理论结果与实验数据一致。
图形摘要
Abstract
The classical over-barrier ionization model (COBI) method and trajectory calculations were utilized to simulate the ionization of He+ impacted by a positron. The calculated ionization cross sections of He+ agree with other theoretical data. Additionally, we found that the double ionization of He has a definite association with the positron-He+ impact. This result can explain why doubly ionized He seemed to be positron-scattered by the rest of the He+ in our previous study. The COBI model was also extended to study the double ionization caused by positron-Ne impacts. Our theoretical results agree with the experimental data.
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DOI：
10.1103/physreva.36.1519
发表时间：
1987-08
期刊：
Physical review. A, General physics
影响因子：
--
作者：
Olson
通讯作者：
Olson
DOI：
10.1088/1742-6596/488/8/082024
发表时间：
2013-12
期刊：
Journal of Physics: Conference Series
影响因子：
--
作者：
J. Shao;M. Zhou;X. Zou;S. Wang;C. Cheng;W. Zhou;X. Ma;X. M. Chen
通讯作者：
J. Shao;M. Zhou;X. Zou;S. Wang;C. Cheng;W. Zhou;X. Ma;X. M. Chen
DOI：
10.1088/0022-3700/19/18/021
发表时间：
1986-09
期刊：
Journal of Physics B
影响因子：
--
作者：
A. Niehaus
通讯作者：
A. Niehaus
影响因子：
2.9
作者：
J. Moxom;D. M. Schrader;G. Laricchia;Jun Xu;L. Hulett
通讯作者：
J. Moxom;D. M. Schrader;G. Laricchia;Jun Xu;L. Hulett
影响因子：
--
作者：
Slater, JC
通讯作者：
Slater, JC