In-plane displacement measurement using electric-speckle-pattern-interferometry-based on spatial fringe analysis metgid
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基于空间条纹分析metgid的电散斑干涉测量面内位移
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
S.Yokozeki
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Y.Arai;S.Yokozeki
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影响因子：
1.3
作者：
Y. Arai;S. Yokozeki;K. Shiraki;Tomoharu Yamada
通讯作者：
Tomoharu Yamada
基于空间条纹分析方法的电子散斑干涉测量
DOI：
10.1117/12.445547
发表时间：
2001
期刊：
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影响因子：
--
作者：
Y. Arai;S. Yokozeki
通讯作者：
S. Yokozeki
用于光学形状和变形测量的超短脉冲干涉传感器
DOI：
10.1117/12.445537
发表时间：
2001
期刊：
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影响因子：
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作者：
T. Carlsson
通讯作者：
T. Carlsson
未解决散斑的相移散斑干涉测量：理论研究
影响因子：
2.4
作者：
M. Lehmann
通讯作者：
M. Lehmann
工程分析的光学方法：散斑相关干涉测量法
DOI：
10.1017/cbo9780511575013.020
发表时间：
1995
期刊：
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影响因子：
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作者：
G. Cloud
通讯作者：
G. Cloud