TEM Observation of Tensile Deformation of Silicon Nanowire between Micromachined Sharp Opposing Tips
TEM Observation of Tensile Deformation of Silicon Nanowire between Micromachined Sharp Opposing Tips
复制标题
微加工锋利相对尖端之间硅纳米线拉伸变形的 TEM 观察
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H.Fujita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Isbida;K.Kakushima;M.Mita;H.Fujita
室温下晶体硅表面接触过程的直接原子观察
影响因子：
3.7
作者：
T. Kizuka
通讯作者：
T. Kizuka
DOI：
10.1143/jjap.40.l71
发表时间：
2001-01-15
期刊：
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS
影响因子：
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作者：
Kizuka, T;Umehara, S;Fujisawa, S
通讯作者：
Fujisawa, S