K.Hono: "Nano-scale analysis by atom probe FIM" Boundary. 8. 18-25 (1992)
K.Hono: "Nano-scale analysis by atom probe FIM" Boundary. 8. 18-25 (1992)
复制标题
K.Hono:“通过原子探针 FIM 进行纳米级分析”边界。
DOI:
--
复制
发表时间:
--
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
登录
查看更多内容
DOI:
--
发表时间:
2004
期刊:
影响因子:
--
作者:
Howard E. Figler;R. N. Bolles
通讯作者:
R. N. Bolles
DOI:
10.2307/2264462
发表时间:
1959
期刊:
Revista Brasileira de Estudos de População
影响因子:
--
作者:
I. Ratchick;D. Super
通讯作者:
D. Super
DOI:
--
发表时间:
1988
期刊:
影响因子:
--
作者:
M. Carlsen
通讯作者:
M. Carlsen
DOI:
10.1037/h0022137
发表时间:
1965
期刊:
影响因子:
--
作者:
R. Lyon
通讯作者:
R. Lyon
DOI:
--
发表时间:
1995
期刊:
影响因子:
--
作者:
H. Zinn
通讯作者:
H. Zinn