High Frequency Dielectric Mapping Using Non-contact Probe for Dielectric Materials
High Frequency Dielectric Mapping Using Non-contact Probe for Dielectric Materials
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使用非接触式探针进行电介质材料高频电介质测绘
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Tsurumi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.Kakemoto;S-M.Nam;S.Wada;T.Tsurumi
影响因子：
4
作者：
Steinhauer, DE;Vlahacos, CP;Melngailis, J
通讯作者：
Melngailis, J
使用高达 1 GHz 的阻抗分析仪测量 BaTiO3 基材料的介电谱
影响因子：
1.5
作者：
H. Kakemoto;Jianyong Li;S. Nam;S. Wada;T. Tsurumi
通讯作者：
T. Tsurumi