Electronic structure of ordered Ga0.5In0.5P/GaAs heterointerface studied by Raman-scattering and photoluminescence-excitation measurements

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通过拉曼散射和光致发光激发测量研究有序 Ga0.5In0.5P/GaAs 异质界面的电子结构

DOI:
--
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发表时间:
2005
期刊:
Japanese Journal of Applied Physics 44・10
影响因子:
--
通讯作者:
H.Schweizer
H.Schweizer
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
K.Yamashita;K.Oe;T.Kita;O.Wada;Y.Wang;C.Geng;F.Scholz;H.Schweizer

文献摘要

参考文献

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