Suppression of potential roughness in atom-chip ac Zeeman traps
Suppression of potential roughness in atom-chip ac Zeeman traps
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原子芯片交流塞曼陷阱中潜在粗糙度的抑制
DOI：
10.1103/physreva.105.053127
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发表时间：
2022
影响因子：
2.9
通讯作者：
Aubin, S.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Du, S.;Ziltz, A. R.;Miyahira, W.;Aubin, S.
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通讯作者：
Seth Aubin
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