Long-Term Data Retention Test Method for Ferroelectric RAM
Long-Term Data Retention Test Method for Ferroelectric RAM
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铁电RAM长期数据保持测试方法
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kazuyuki Nakamura et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hiroki Koike;Kazuyuki Nakamura et al.
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影响因子：
3.2
作者：
Dba Rep;Mwj Menno Prins
通讯作者：
Dba Rep;Mwj Menno Prins
DOI：
10.1109/essderc.2001.195277
发表时间：
2001
期刊：
31st European Solid-State Device Research Conference
影响因子：
--
作者：
G. Le Grand de Mercey;O. Kowarik
通讯作者：
O. Kowarik
影响因子：
2.1
作者：
Chun;Luyuan Zhang;Y. P. Peng;W. Zhong;Peng Zhang;Yifei Wang
通讯作者：
Yifei Wang
磁记录介质 Preisach 分布的实验评估
DOI：
10.1109/tmag.2003.816467
发表时间：
2003
期刊：
Digest of INTERMAG 2003. International Magnetics Conference (Cat. No.03CH37401)
影响因子：
--
作者：
P. Postolache;M. Cerchez;L. Stoleriu;A. Stancu
通讯作者：
A. Stancu
DOI：
10.1109/tdmr.2018.2829112
发表时间：
2018-06-01
影响因子：
2
作者：
Pesic, Milan;Schroeder, Uwe;Mikolajick, Thomas
通讯作者：
Mikolajick, Thomas