X-ray Reciprocal-Lattice Space Imaging Method for Quick analysis of Buried Crystalline Nanostructure - a Diffraction Method Fixed at an Angular Position

X-ray Reciprocal-Lattice Space Imaging Method for Quick analysis of Buried Crystalline Nanostructure - a Diffraction Method Fixed at an Angular Position
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用于快速分析埋藏晶体纳米结构的 X 射线倒易晶格空间成像方法 - 固定在一定角度位置的衍射方法

DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
The Transactions of Materials Research Society of Japan (accepted)
影响因子：
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通讯作者：
K.Sakamoto and K.Miki
K.Sakamoto and K.Miki
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
O.Sakata;W.Yashiro;K.Sakamoto and K.Miki

文献摘要

参考文献

相似文献

Nanostructural characterization of surfaces, interfaces, and thinfilms using x-ray reciprocal-lattice space imaging(written in Japanese)
使用 X 射线倒易晶格空间成像对表面、界面和薄膜进行纳米结构表征（日语撰写）
DOI： --
发表时间： 2007
期刊： Journal of Crystallographic Society of Japan 49
影响因子： --
作者：
O. Sakata;M. Yoshimoto;K. Miki;M. Nakamura;and H. Funakubo
通讯作者： and H. Funakubo