Tiefenscannende Weißlichtinterferometrie in maschinennaher Umgebung

Tiefenscannende Weißlichtinterferometrie in maschinennaher Umgebung
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机器相关环境中的深度扫描白光干涉测量

DOI:
10.1515/teme-2014-0408
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发表时间:
2014
期刊:
tm - Technisches Messen
影响因子:
--
通讯作者:
A. Brückner-Foit
A. Brückner-Foit
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
S. Tereschenko;P. Kühnhold;P. Lehmann;L. Zellmer;A. Brückner-Foit

文献摘要

参考文献

被引文献

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