Tiefenscannende Weißlichtinterferometrie in maschinennaher Umgebung
Tiefenscannende Weißlichtinterferometrie in maschinennaher Umgebung
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机器相关环境中的深度扫描白光干涉测量
DOI:
10.1515/teme-2014-0408
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发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
A. Brückner-Foit
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
S. Tereschenko;P. Kühnhold;P. Lehmann;L. Zellmer;A. Brückner-Foit
影响因子:
1.9
作者:
Chunyu Zhao;J. Burge
通讯作者:
J. Burge
影响因子:
1.9
作者:
M. Fleischer;R. Windecker;H. Tiziani
通讯作者:
H. Tiziani
DOI:
10.4028/www.scientific.net/msf.482.45
发表时间:
2005
期刊:
Materials Science Forum
影响因子:
--
作者:
J. Polák;J. Man;K. Obrtlík
通讯作者:
K. Obrtlík