The ups and downs of beam damage, contrast and noise in biological electron microscopy
The ups and downs of beam damage, contrast and noise in biological electron microscopy
复制标题
生物电子显微镜中束流损伤、对比度和噪声的起伏
DOI：
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发表时间：
1986
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
E. Kellenberger
中科院分区：
文献类型：
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作者：
E. Kellenberger
影响因子：
56.9
作者：
F. Zemlin;E. Reuber;E. Beckmann;E. Zeitler;D. Dorset
通讯作者：
F. Zemlin;E. Reuber;E. Beckmann;E. Zeitler;D. Dorset
蛋白质晶体的电子辐射敏感性。
影响因子：
2.2
作者：
Chiu,W;Jeng,TW
通讯作者：
Jeng,TW