High-temperature Superconducting Probe for Scanning Probe Microscopy
High-temperature Superconducting Probe for Scanning Probe Microscopy
复制标题
用于扫描探针显微镜的高温超导探针
DOI:
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发表时间:
2023
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
and N. Hiroshiba
中科院分区:
文献类型:
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作者:
S. Ariyoshi;A. Ebata;B. Ohnishi;S. Ohnishi;T. Kanada;K. Hayashi;Y. Miyato;S. Tanaka;and N. Hiroshiba
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DOI:
10.15125/bath-00945
发表时间:
2021
期刊:
--
影响因子:
--
作者:
D. Collomb;S. Bending;W. Yuan;M. Zhang
通讯作者:
M. Zhang
影响因子:
8.6
作者:
Stoddart;Bending;Geim;Henini
通讯作者:
Henini
影响因子:
6.1
作者:
MacManus-Driscoll, J. L.;Bianchetti, M.;Moon, S. H.
通讯作者:
Moon, S. H.
影响因子:
3.6
作者:
Marchiori, Estefani;Bending, Simon J.
通讯作者:
Bending, Simon J.
影响因子:
4.6
作者:
Talantsev EF;Strickland NM;Wimbush SC;Brooks J;Pantoja AE;Badcock RA;Storey JG;Tallon JL
通讯作者:
Tallon JL