课题基金 / 基金详情

X-Ray Topographic Characterization and X-Ray Rocking Curve Analysis of Defects and Stresses in Electronic Materials (Materials Research)

X-Ray Topographic Characterization and X-Ray Rocking Curve Analysis of Defects and Stresses in Electronic Materials (Materials Research)
电子材料中缺陷和应力的 X 射线形貌表征和 X 射线摇摆曲线分析（材料研究）
批准号：
8605564
负责人：
Jharna Chaudhuri
金额：
$12.08万
依托单位：
Wichita State University
依托单位国家：
美国
项目类别：
Continuing Grant
财政年份：
1986
资助国家：
美国
项目状态：
已结题
起止时间：
1986-09-01 至 1989-12-31
来源：
https://www.nsf.gov/awardsearch/showAward?AWD_ID=8605564&HistoricalAwards=false
关键词：
RayTopographicCharacterizationRockingCurve

项目摘要

项目成果

Jharna Chaudhuri的其他基金

相似基金

相关文献

中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
MRI: Acquisition of a Transmission Electron Microscope for Materials Research and Education
  • 批准号：
    0922898
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $53.35万
  • 财政年份：
    2009
  • 负责人：
    Jharna Chaudhuri
  • 依托单位：
    Texas Tech University
Collaborative Research: Analysis of Defects and Their Causes in Bulk Aluminum Nitride Crystals
  • 批准号：
    0515858
  • 项目类别：
    Continuing Grant
  • 资助金额：
    $0.0万
  • 财政年份：
    2005
  • 负责人：
    Jharna Chaudhuri
  • 依托单位：
    Texas Tech University
Collaborative Research: Analysis of Defects and Their Causes in Bulk Aluminum Nitride Crystals
  • 批准号：
    0408703
  • 项目类别：
    Continuing Grant
  • 资助金额：
    $0.31万
  • 财政年份：
    2004
  • 负责人：
    Jharna Chaudhuri
  • 依托单位：
    Wichita State University
A Materials Research Diffractometer for High Resolution X-Ray Characterization of Group III Nitride Based Wide Band Gap Simiconductors
  • 批准号：
    9803093
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $8.75万
  • 财政年份：
    1998
  • 负责人：
    Jharna Chaudhuri
  • 依托单位：
    Wichita State University
海外基金