Niederenergetisches Elektronenmikroskop

“低能电子显微镜(LEEM)是一种低能电子显微镜(LEEM)，它在硅胶技术中得到了应用，并在此基础上提供了更多的专业知识和更多的信息。”在此基础上，我们可以通过以下两种方式来解决这一问题：一种新技术，一种新技术，一种新的技术。他说：“我的劳动是一件很好的事情，它是一件非常重要的事情，因为它是一件非常重要的事情。”从现在开始，我们将继续努力，以提高我们的工作效率。“

„Die Beschaffung eines Low-Energy Electron Microscope (LEEM) soll der Arbeitsgruppe Oberfiächenphysik ermöglichen, ihre in den letzten Jahren erworbene Expertise und gute Ausgangsposition im Feld der dynamischen in-situ Charakterisierung von Prozessen der Adsorption und des epitaktischen Wachstums weiter auszubauen und für Studien in den Forschungsfeldern der Implementierung von Ge-Nanostrukturen in die Siliziumtechnologie, der Lichtemitter auf Basis breitlückiger Halbleiter und der Untersuchung der Struktur bimetallischer Oberflächen und Nanosysteme einzusetzen. Hierfür werden die Vorteile eines LEEM gezielt eingesetzt, nämlich die Abbildung von ansonsten kaum zugänglichen Oberflächenphänomenen mit Videorate während der Präparation unter Nutzung verschiedenster anpassungsfähiger Kontrastmechanismen. Das Mikroskop für das Bremer Oberflächenlabor wird es nicht nur erlauben, die bisherigen Experimente in Umfang und Tiefe systematisch auszubauen, sondern auch auf neue attraktive Forschungsgebiete auszudehnen, wie z.B. das Wachstum hochgradig geordneter GaN-Nanostäbe für optoelektronische Anwendungen und struktursensitive In-operando-Mikroskopie katalytischer Oberflächenreaktionen. Die Voraussetzungen für einen sehr erfolgreichen Einsatz des neuen Geräts sind hervorragend, da in der Abeitsgruppe Oberflächenphysik drei promovierte Wissenschaftler mit breiter eigener Erfahrung im Einsatz von LEEM tätig sind.“