MRI-R2: Acquisition of an Analytical High Resolution Scanning Electron Microscope
MRI-R2:获取分析高分辨率扫描电子显微镜
基本信息
- 批准号:0959568
- 负责人:
- 金额:$ 46.41万
- 依托单位:
- 依托单位国家:美国
- 项目类别:Standard Grant
- 财政年份:2010
- 资助国家:美国
- 起止时间:2010-01-01 至 2012-12-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
This award is funded under the American Recovery and Reinvestment Act of 2009 (Public Law 111-5).With this award from the Major Research Instrumentation (MRI) program Professor John J. Bozzola and colleagues Samir M. Aouadi, Peter Filip, Punit Kohli and Shing-Chung Max Yen from the Integrated Microscopy and Graphics Expertise (IMAGE) facility at Southern Illinois University at Carbondale will acquire a high resolution, field emission scanning electron microscope (SEM). This facility is used by a large number of researchers in fields as diverse as biomolecular sensing to atmospheric to geological sciences and engineering. The facility is administratively housed at the Graduate School. The instrument will be used to support research activities such as: 1) studies of nanoscience applications to bioanalytical and materials chemistry; 2) adaptive nanocomposite and textured tribological coatings; 3) dendron-functionalized superconducting iron oxide nanoparticles (SPIONs) as pH-sensing MRI contrast agents; 4) application development using carbon nanotubes, nanowires and carbon nanotube-based hybrid materials; 5) surface phenomena and imaging of nanostructures to study the interplay between surfaces and bulk electronic properties of individual nanostructures; 6) study of modified matrix-assisted laser desorption ionization mass spectrometry (MALDI) targets as advanced platforms for biomarker screening/comparative proteomics; 7) studies of the generation, processing and fate of atmospheric particulate matter; 8) applications of sol-gel derived materials; 9) study of bacterial degradation of cellulose; and 10) study of oxidative dissolution of sulfide minerals.A scanning electron microscopy (SEM) is a widely used technique for providing an image of a sample surface. The image is obtained from scanning the surface with a beam of electrons. This mainstay technique enables scientists to see the ultrastructural details of fabricated systems, molecular arrangements of man-made nanostructures and the subtle changes associated with friction and wear in surfaces. The studies described here will impact a number of areas, including chemistry, materials chemistry, geology, biochemistry and the environment. This instrument will be an integral part of teaching as well as research.
该奖项是根据2009年美国复苏和再投资法案(公法111-5)资助的。来自南伊利诺伊大学卡本代尔分校综合显微镜和图形专业技术(IMAGE)设施的Aouadi、Peter Filip、Punit Kohli和Shing-Chung Max Yen将获得一台高分辨率场发射扫描电子显微镜(SEM)。该设施被大量研究人员用于生物分子传感、大气、地质科学和工程等不同领域。该设施行政上设在研究生院。该仪器将用于支持以下研究活动:1)纳米科学在生物分析和材料化学中的应用研究; 2)自适应纳米复合材料和纹理摩擦涂层; 3)树枝状功能化超导氧化铁纳米颗粒(SPION)作为pH传感MRI造影剂; 4)使用碳纳米管,纳米线和碳纳米管混合材料的应用开发; 5)纳米结构的表面现象和成像,以研究单个纳米结构的表面和体电子特性之间的相互作用; 6)研究改进的基质辅助激光解吸电离质谱(MALDI)目标,作为生物标志物筛选/比较蛋白质组学的先进平台; 7)研究大气颗粒物的产生、处理和归宿; 8)溶胶-凝胶衍生材料的应用; 9)纤维素的细菌降解的研究;和10)硫化物矿物的氧化溶解的研究扫描电子显微镜(SEM)是用于提供样品表面图像的广泛使用的技术。图像是通过用电子束扫描表面获得的。这种主要技术使科学家能够看到制造系统的超微结构细节,人造纳米结构的分子排列以及与表面摩擦和磨损相关的细微变化。这里描述的研究将影响许多领域,包括化学,材料化学,地质学,生物化学和环境。该仪器将成为教学和研究的一个组成部分。
项目成果
期刊论文数量(0)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
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