Zweistrahl-Rastermikroskop mit Elektronen- und Ionenstrahl

“从材料的角度来看，这是一种新的技术。Sie ermöglicht eine Hoch or tsaufelöste analyst des strukturellen Aufbaus von Werkstoffen and Bauteilen.这是一家名为Mikroskops ist für zahreiche Forschungsarbeiten des Instituts and Seiner Kotors的合伙人。我是一名摩擦学专家，也是一名机械工程师。我是Rahman dieser arbeiten es notwendigge die proben nick nur and der Oberfläche sondern auch in oberflächennahen Bereichen三维hinsichtlich Kornorientierung(3D EBSD)和Chemischer Zusammensetzung(3D EDS)zu analysieren。自由和再生产是一件很重要的事情，因为这是一件很重要的事情，因为这是一件很重要的事情。这个方法的效率在Forschungsvorhaben einbinden zu können，wird Hohe Verfügbarkeit and Permanent Zugriff Benötigt.我们不会去挖掘，也不会去寻找机会，也不会去寻找新的特征，永久地去实现自己的理想。

„Die Kombination aus Rasterionen- und Rasterelektronenmikroskopie stellt eine Schlüsseltechnologie der Materialforschung dar. Sie ermöglicht eine hoch ortsaufgelöste Analyse des strukturellen Aufbaus von Werkstoffen und Bauteilen. Der Einsatz dieses Mikroskops ist für zahlreiche Forschungsarbeiten des Instituts und seiner Kooperationspartner von größter Bedeutung. Im Zentrum steht dabei die Untersuchung der mikrostrukturellen Veränderungen als Folge tribologischer Belastung und deren mechanismenbasierte Modellierung. Im Rahmen dieser Arbeiten ist es notwendig die Proben nicht nur an der Oberfläche sondern auch in oberflächennahen Bereichen dreidimensional hinsichtlich Kornorientierung (3D EBSD) und chemischer Zusammensetzung (3D EDS) zu analysieren. Artefaktfreie und reproduzierbare Ergebnisse lassen sich nur erzielen, wenn das Mikroskop durch forschende Wissenschaftler betreut wird, die Zugriff auf und Kontrolle aller Verfahrensschritte haben. Um die Methode effizient in Forschungsvorhaben einbinden zu können, wird hohe Verfügbarkeit und permanenter Zugriff benötigt. Darüber hinaus ist es notwendig, Um- und Anbauten vornehmen zu können, die für die Analyse spezieller Probengeometrien notwendig sind, und nur an einem eigenen, permanent verfügbaren Gerät realisiert werden können.“