Rastertunnelmikroskop

扫描隧道显微镜

• 批准号: 254116843
• 金额: --
• 依托单位: Universität des Saarlandes
• 依托单位国家: 德国
• 项目类别: Major Research Instrumentation
• 财政年份: 2014
• 资助国家: 德国
• 起止时间: 2013-12-31 至 无数据
• 项目状态: 未结题
• 来源: https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/254116843?language=en
• 关键词: Rastertunnelmikroskop

Bei der Rastertunnelmikroskopie (STM) handelt es sich um ein in der Oberflächenanalytik eingesetztes Standardverfahren, das es erlaubt, Realraumabbildungen von Oberflächen zu erstellen. Im Gegensatz zu vielen anderen mikroskopischen Techniken kann hier eine so hohe Präzision erreicht werden, dass es möglich ist, Ortsauflösungen im Bereich atomarer Abstände zu erzielen. Dem Messprinzip liegt ein rein quantenmechanisches Phänomen zugrunde, nämlich die Erfassung des sogenannten Tunnelstroms zwischen der Messsonde (Tunnelspitze) und der jeweiligen Oberfläche. Die dadurch bedingte hohe Oberflächensensitivität stellt besonders im Hinblick auf Untersuchungen im Rahmen der Nanotechnologie einen entscheidenden Vorteil dar. Das beantragte Gerät soll bereits vorhandene, jedoch komplementäre experimentelle Methoden mit ähnlich hoher Oberflächenempfindlichkeit (z.B. spektroskopische Verfahren und Streumethoden) ergänzen. Die Kombination dieser Techniken ist jedoch nur dann sinnvoll, wenn das STM nicht als eigenständige Einheit betrieben wird, sondern als Ausbaustufe die bereits vorhandene Ultrahochvakuumanlage (Druck- 10•14 bar) ergänzt, so dass alle Methoden in-situ im Vakuum verfügbar sind. Die künftigen Einsatzgebiete des STM werden sowohl in der Grundlagenforschung als auch in der anwendungsbezogenen Material- & Werkstoffforschung angesiedelt sein.

在光栅隧道显微镜（STM）中，有一种标准的上平面分析方法，这种方法是在上平面上建立的，实际上是在上平面上建立的。在众多的微卫星技术中，我们可以使用一种非常精确的韦尔登方法，因为它是一种非常精确的方法，在原子吸收光谱仪中使用这种方法。Dem Messprinzip liegt ein rein quantenmechanisches Phänomen zugrunde，nämlich die Erfasung des sogenannten Tunnelspitze zwischen der Messsonde（Tunnelspitze）und der jeweiligen Oberfläche. Die dadestubingte hohe Oberflächensensitivität stellt besonders im Hinblick auf Untersuchungen im Rahmen der Nanotechnologie einen entscheidenden Vorteil dar. Das beantragte Gerät soll bereits vorhandene，jedoch komplementäre experimentelle Methoden mit ähnlich hoher Oberflächenempfindlichkeit（z.B. spektroskopische Verfahren und Streumethoden）ergänzen.这种技术的组合只是一种简单的方法，如果STM不具有固有的特性，那么就必须在高压真空（Druck- 10·14 bar）条件下进行，所以所有的真空原位方法都是如此。STM韦尔登的基本研究也包括材料和加工研究。