Kombiniertes Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskop (AFM-STM)

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Das vorgesehene AFM/STM Gerät soll hauptsächlich im Bereich der Physikalischen Chemie zur Erforschung des Schichtwachstums von anorganisch-organischen Hybridverbindungen auf metallischen Substraten, zur Bestimmung der Strukturbildung bei organisch modifizierten Oberflächen, der Untersuchung von Kristallisationseffekten solcher Verbindungen, der Aufklärung der Struktur mikroporöser Materialien und von Biomembranen dienen. Weitere Aufgabenfelder liegen in der Untersuchung der Messung von Partikelwechselwirkungen in kolloidalen Systemen, der Morphologie von katalytischen Netzwerken und immobilisierter Übergangsmetall-katalysatoren. Im Bereich Sensormaterialien soll es neben der Abbildung der Oberflächenmorphologie auch zur lokalen Leitfähigkeitsbestimmung sowohl von klassischen Halbleitermaterialien wie auch von leitfähigen, porösen metall-organischen Gerüstverbindungen eingesetzt werden. Als Anwendungen der Physikalischen Institute sind Untersuchungen im Rahmen der Initiativen der Hochschule zur Halbleiterforschung, insbesondere die Analyse dünner photovoltaischer Schichten, vorgesehen. Das Gerät soll weiterhin den materialwissen-schaftlichen Instituten zur Verfügung stehen. Insbesondere sind von diesen die Untersuchung der Kristallisation von Zementkomponenten und die morphologischen Veränderungen von Elektrodenoberflächen vorgesehen.