Kombiniertes Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskop (AFM-STM)

Das vorgesehene afm/STM Gerät soll hauptsächlich im Bereich der Physikalischen Chemie zur Erforschung des Schichtwachstumsum von AnOrganchen Hybridge Verbindindungen auf Metalischen Substren，Zur Bstimmung der Strukturbindbildung Beer Organfizierten OberfläChen，der Untersusuung von Kristallisationseffequer Verbindungen，der Aufklärung der Strukur mikropor ser ser von Biombremen dienen。在Kolloidalen系统中，Weitere Aufgabenfield liegen in Messung von Messung von Partikelwechselwirkungen，der Morphologie von Katalytischen Netzwerken and Mobilisierterüberegsmetall-katalysatoren.Im Bereich SensorMaterial soll es neben der Abbildung der Oberflächenpolologie auch zur lokalen Leitfähigkeitsbstimung sowohl von Klassischen HalbleiterMateralen Wie auch von Leitfähigen，Porösen Metall-Organchen GerüstVerbindungen eingesetzt den。ALS Anwendungen der Physikalischen Institute Sind Untersuhugen in Rahman der Hochschule zur Halbleiterforschung，inbebeondere die analyts dünner光伏分析Schichten，vorgesehen.这是一项重要的工程技术研究工作。在此基础上，提出了一种新的概念，并对其形态进行了分析。

Das vorgesehene AFM/STM Gerät soll hauptsächlich im Bereich der Physikalischen Chemie zur Erforschung des Schichtwachstums von anorganisch-organischen Hybridverbindungen auf metallischen Substraten, zur Bestimmung der Strukturbildung bei organisch modifizierten Oberflächen, der Untersuchung von Kristallisationseffekten solcher Verbindungen, der Aufklärung der Struktur mikroporöser Materialien und von Biomembranen dienen. Weitere Aufgabenfelder liegen in der Untersuchung der Messung von Partikelwechselwirkungen in kolloidalen Systemen, der Morphologie von katalytischen Netzwerken und immobilisierter Übergangsmetall-katalysatoren. Im Bereich Sensormaterialien soll es neben der Abbildung der Oberflächenmorphologie auch zur lokalen Leitfähigkeitsbestimmung sowohl von klassischen Halbleitermaterialien wie auch von leitfähigen, porösen metall-organischen Gerüstverbindungen eingesetzt werden. Als Anwendungen der Physikalischen Institute sind Untersuchungen im Rahmen der Initiativen der Hochschule zur Halbleiterforschung, insbesondere die Analyse dünner photovoltaischer Schichten, vorgesehen. Das Gerät soll weiterhin den materialwissen-schaftlichen Instituten zur Verfügung stehen. Insbesondere sind von diesen die Untersuchung der Kristallisation von Zementkomponenten und die morphologischen Veränderungen von Elektrodenoberflächen vorgesehen.