权益分类	功能权益	普通用户	{{item.name}}会员
{{category.name}}	{{benefitItem.name}}

Kombiniertes Rasterkraft- und Rastertunnelmikroskop (AFM-STM)

原子力与扫描隧道显微镜组合 (AFM-STM)

基本信息

批准号：
386319757
负责人：
金额：
--
依托单位：
Technische Universität Bergakademie Freiberg
依托单位国家：
德国
项目类别：
Major Research Instrumentation
财政年份：
2017
资助国家：
德国
起止时间：
2016-12-31 至无数据
项目状态：
未结题

来源：
https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/386319757?language=en
关键词：
Kombiniertes Rasterkraft und Rastertunnelmikroskop AFM

项目摘要

Das vorgesehene AFM/STM Gerät soll hauptsächlich im Bereich der Physikalischen Chemie zur Erforschung des Schichtwachstums von anorganisch-organischen Hybridverbindungen auf metallischen Substraten, zur Bestimmung der Strukturbildung bei organisch modifizierten Oberflächen, der Untersuchung von Kristallisationseffekten solcher Verbindungen, der Aufklärung der Struktur mikroporöser Materialien und von Biomembranen dienen. Weitere Aufgabenfelder liegen in der Untersuchung der Messung von Partikelwechselwirkungen in kolloidalen Systemen, der Morphologie von katalytischen Netzwerken und immobilisierter Übergangsmetall-katalysatoren. Im Bereich Sensormaterialien soll es neben der Abbildung der Oberflächenmorphologie auch zur lokalen Leitfähigkeitsbestimmung sowohl von klassischen Halbleitermaterialien wie auch von leitfähigen, porösen metall-organischen Gerüstverbindungen eingesetzt werden. Als Anwendungen der Physikalischen Institute sind Untersuchungen im Rahmen der Initiativen der Hochschule zur Halbleiterforschung, insbesondere die Analyse dünner photovoltaischer Schichten, vorgesehen. Das Gerät soll weiterhin den materialwissen-schaftlichen Instituten zur Verfügung stehen. Insbesondere sind von diesen die Untersuchung der Kristallisation von Zementkomponenten und die morphologischen Veränderungen von Elektrodenoberflächen vorgesehen.

AFM/STM技术是物理化学领域的一项重要工作，它研究了无机-有机杂化材料在金属基底上的结合，对有机改性材料的结构性能进行了评价，研究了微孔材料的结晶性能，并对生物膜进行了改进。Weitere Aufgabenfelder主要研究kolloidalen系统中的Partikelwechselenkungen测量，katalytischen Netzwerken的形态学和金属-katalysatoren的不动性。在Bereich Sensormaterialien soll es neben der Abbildung der Oberflächenmorphologie auch zur lokalen Leitfähigkeitsbestimmung sowohl von klassischen Halbleitermaterialien wie auch von leitfähigen，porösen metall-organischen Gerüstverbindungen eingesetzt韦尔登.物理研究所的成立是高等学校半物理研究的一项重要举措，它将对半物理研究进行深入的分析。Das Gerät soll weiterhin den materialwissen-schaftlichen Instituten zur Verfügung stehen. Insbesondere sind von diesen die Untersuchung der Kristallisation von Zementkomponenten und die morphologischen Veränderungen von Elektrodenoberflächen vorgesehen.