Fokussiertes Ionenstrahlgerät / Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FIB/FEG-SEM)

Fokussierte Ionenstrahlgerät/Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop，Her Kurz FIB/FEG-seg-seannt，这是一种灵活和灵活的方法，这是一种新的技术和方法，它的目的是为了更灵活、更灵活。在此之前，我们将为您提供986最新最新的产品和服务。MIT Hilfe von MikroManipulatoren ermöglicht zudem die zelpräin halb WEIGER Nano and ist Vorossetzung für Lokal Definierte Untersuhugen an den Materierte in Hardhalb Weiger Nano and ist Vorossetzung für Lokal Definierte Untersuhugen an den Materierte.从材料沉积的角度来看，在汉堡-哈堡市的一所大学里，所有的纳米材料都是由FIB/FEG-SEM和Unbeddingndididig-Forschunggerkzeug组成的。Ansteuerbarkeit和Erweiterbarkeit程序FIB ermöglicht zudem die Flexpline Anpassung des Gerätes an Zukünftige Materialen，Methoden and Anwendungen.

'Das Fokussierte Ionenstrahlgerät/Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop, hier kurz FIB/FEG-SEM genannt, ist ein flexibles und leistungsfähiges Werkzeug für den Mikro- und Nanobereich, das nicht nur zur Gewinnung hochauflösender zwei- und dreidimensionaler Bild- und Analysedaten, sondern auch zur Materialmodifikation für Strukturierungsaufgaben und Mikroprüfversuche sowie insbesondere zur Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) verwendet wird. Speziell für mehrphasige Proben und für moderne Verbundwerkstoffe, wie sie gerade im Sonderforschungsbereich 986 entwickelt werden und die aus Komponenten mit völlig unterschiedlichen Materialeigenschaften aufgebaut sind, ist der fokussierte Ionenstrahl oft die einzig verbleibende Möglichkeit zur Herstellung elektronentransparenter Folien für hochauflösende TEM-Untersuchungen. Die Lift-Out Technik mit Hilfe von Mikromanipulatoren ermöglicht zudem die Zielpräparation innerhalb weniger Nanometer und ist Voraussetzung für lokal definierte Untersuchungen an den Materialien. Aber auch Strukturierungsaufgaben durch Materialabtrag oder Deposition sowie die dreidimensionale Rekonstruktion von Volumen im Bereich von mehreren Kubikmikrometern mit einer Auflösung von wenigen Nanometern sind Alleinstellungsmerkmale der FIB/FEG-SEM und unbedingt notwendiges Forschungswerkzeug in den Materialwissenschaften, der Katalyseforschung, der Mikrosystemtechnik, der Biosystemtechnik und der Bauphysik an der Technischen Universität Hamburg-Harburg. Die programmierbare Ansteuerbarkeit und Erweiterbarkeit moderner FIB ermöglicht zudem die flexible Anpassung des Gerätes an zukünftige Materialien, Methoden und Anwendungen.'