高分子構造の引張変形を分子レベルで検出する近赤外-小角X線散乱の同時計測技術

近红外和小角度X射线散射同步测量技术，在分子水平上检测聚合物结构的拉伸变形

• 批准号: 21K05139
• 负责人: 新澤 英之
• 金额: $ 2.66万
• 依托单位: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2021
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2021-04-01 至 2024-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-21K05139/
• 关键词: 近赤外分光法; 小角X線散乱; 高分子; レオロジー

樹脂材料の機械変形時のメカニズムを分子レベルで評価するために、近赤外光と小角X線散乱用いた新しいレオ・オプティカル計測システムを開発する。本手法は引張試験機と近赤外計測置と小角X線散乱測定装置の3つを組み合わせることで、延伸する高分子の応力-ひずみ曲線、近赤外光によって弾性変形化のタイ鎖の変形、小角X線散乱によって塑性変形時のラメラの変形を動的に計測する。本手法では、延伸試料に対してX線及び近赤外光を照射することで、弾性変形における高分子構造の変形を近赤外光、塑性変形を小角X線散乱で検出するものである。このためX線と近赤外光を試料の同一部位に照射する機構が必要となる。小角X線散乱装置は極めて複雑に設計されたX線光学系となるために、設計・設置がより容易な近赤外光の照射および検出機構を市販の小角X線散乱装置内に構築する。外部に設置した近赤外光源からの近赤外光をファイバーによって小角X線散乱装置内に導入する。近赤外光は偏光子によって水平方向に偏光した後、試料背面に設置したファイバーで受光し検出器へと送る。近赤外測定にファイバープローブを用いる最大の利点は、試料の照射位置が同じであれば、近赤外光の投光部と受光部をX線の照射軸上に設置する必要がないということである。即ち、本機構によって試料の同一箇所において近赤外光吸収と小角X線散乱の測定が行える。延伸装置等の外力によって測定対象に機械的変形を与えることで、樹脂材料の機械変形時の近赤外吸収とX線散乱による分析を行うことが可能となる。

When the fat material is used in the mechanical system, the molecular system is used in the system, and the near-red light is used in small-angle X-ray scattering. This method is used to test the small-angle X-ray scatter measuring device for testing the small-angle X-ray scatter measuring device, extending the high-molecular force-strain curve, the near-red light beam, the small-angle X-ray scatter, the small-angle X-ray scatter, the small-angle X-ray, the small-angle X-ray. In this paper, the technique is used to measure the X-ray of the material, the X-ray and the X-ray of the near-red light, the shape of the polymer, the near-infrared light, the plastic shape, the small-angle X-ray of the plastic shape, the X-ray of the small angle. It is necessary to use near-infrared light to irradiate the same part of the machine. The small-angle X-ray scatter device is very important to copy the design of the X-ray scatter device. It is easy to use near-red light to illuminate the small-angle X-ray scatter device in the small-angle X-ray scatter device of the small angle X-ray scatterer. The external setting sets the near-red external light source, the near-red external light source, the small-angle X-ray scatter device and the small-angle X-ray scatter device. Near-red light polarizing photons, after the horizontal polarizing light is turned off, the back of the material is set to receive light. In the near-infrared measurement system, the maximum profit point is used, the irradiation position of the material is the same as that of the laser, and the necessary equipment is set on the light-receiving part of the near-infrared light projector. That is, the machine is responsible for the determination of near-infrared light absorption and small-angle X-ray scatter measurement in the same facility. External forces such as extension devices are used to determine the shape and shape of the machine, and the fat material is used to analyze the shape of the machine and the shape of the machine.

项目成果

プラスチックの劣化状態を非破壊分析するシステムを開発

开发塑料劣化状态无损分析系统