Development of an Ultra-Fast Statistical Signal/Power Integrity Analysis Simulator for the High-speed Digital System Design
开发用于高速数字系统设计的超快速统计信号/电源完整性分析模拟器
基本信息
- 批准号:20K14719
- 负责人:
- 金额:$ 2.66万
- 依托单位:
- 依托单位国家:日本
- 项目类别:Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
- 财政年份:2020
- 资助国家:日本
- 起止时间:2020-04-01 至 2023-03-31
- 项目状态:已结题
- 来源:
- 关键词:
项目摘要
项目成果
期刊论文数量(12)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
Micromachines
微型机械
- DOI:
- 发表时间:2017
- 期刊:
- 影响因子:3.4
- 作者:Lisheng Liu;Tao Bai;Qingjia Chi;Zhen Wang;Shuang Xu
- 通讯作者:Shuang Xu
Analysis of HDMI 2.1 Mated Connector Contact Boundary Impedance Impacts on a High-speed Digital System Performance
HDMI 2.1 配合连接器接触边界阻抗对高速数字系统性能影响的分析
- DOI:
- 发表时间:2021
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Youngwoo Kim;Daisuke Fujimoto;and Yu-ichi Hayashi
- 通讯作者:and Yu-ichi Hayashi
How to Design Secured Power Delivery Network of Cryptographic Devices: Challenges, Evaluation Methods, and Solutions
如何设计加密设备的安全供电网络:挑战、评估方法和解决方案
- DOI:
- 发表时间:2023
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Ryosuke Ota;Nobukazu Hoshi;Liangliang Wei; Taketsune Nakamura;Youngwoo Kim
- 通讯作者:Youngwoo Kim
Simultaneous Security and EMC Evaluations Based on Measuring Electromagnetic Field Distributions on PCBs
基于测量 PCB 电磁场分布的同时安全性和 EMC 评估
- DOI:
- 发表时间:2022
- 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:Youngwoo Kim;Daisuke Fujimoto;Yuichi Hayashi
- 通讯作者:Yuichi Hayashi
Measurement and Analysis of Electromagnetic Information Leakage From Printed Circuit Board Power Delivery Network of Cryptographic Devices
- DOI:10.1109/temc.2021.3062417
- 发表时间:2021-03
- 期刊:
- 影响因子:2.1
- 作者:Shinpei Wada;Y. Hayashi;Daisuke Fujimoto;N. Homma;Youngwoo Kim
- 通讯作者:Shinpei Wada;Y. Hayashi;Daisuke Fujimoto;N. Homma;Youngwoo Kim
{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}
{{ item.title }}
- 作者:
{{ item.author }}
数据更新时间:{{ patent.updateTime }}
Kim Youngwoo其他文献
Evaluation of Statistical Fault Analysis Using Input Timing Violation of Sequential Circuit on Cryptographic Module Under IEMI
IEMI 下密码模块时序电路输入时序违规统计故障分析评估
- DOI:
10.1109/temc.2022.3215583 - 发表时间:
2023 - 期刊:
- 影响因子:2.1
- 作者:
Fujimoto Daisuke;Okamoto Takumi;Li Yang;Kim Youngwoo;Hayashi Yuichi - 通讯作者:
Hayashi Yuichi
Simultaneous Security and EMC Evaluations Based on Measuring Electromagnetic Field Distribution on PCBs
基于测量 PCB 电磁场分布的同时安全性和 EMC 评估
- DOI:
10.1109/memc.2022.9982569 - 发表时间:
2022 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
Kim Youngwoo;Fujimoto Daisuke;Hayashi Yuichi - 通讯作者:
Hayashi Yuichi
A Fundamental Evaluation of EM Information Leakage Induced by IEMI for a Device with Differential Signaling
差分信号设备 IEMI 引起的 EM 信息泄漏的基本评估
- DOI:
10.1109/apemc49932.2021.9597081 - 发表时间:
2021 - 期刊:
- 影响因子:0
- 作者:
Kaji Shugo;Fujimoto Daisuke;Kim Youngwoo;Hayashi Yuichi - 通讯作者:
Hayashi Yuichi
A Novel Remote Visualization of Screen Images Against High-Resolution Display With Divided Screens Focusing on the Difference of Transfer Function of Multiple Emanations
一种新颖的分屏高分辨率显示屏幕图像远程可视化,重点关注多重发射传递函数的差异
- DOI:
10.1109/temc.2022.3204357 - 发表时间:
2022 - 期刊:
- 影响因子:2.1
- 作者:
Kitazawa Taiki;Arai Kimihiro;Kim Youngwoo;Fujimoto Daisuke;Hayashi Yuichi - 通讯作者:
Hayashi Yuichi
Kim Youngwoo的其他文献
{{
item.title }}
{{ item.translation_title }}
- DOI:
{{ item.doi }} - 发表时间:
{{ item.publish_year }} - 期刊:
- 影响因子:{{ item.factor }}
- 作者:
{{ item.authors }} - 通讯作者:
{{ item.author }}