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Development of a multi-axis cone beam CT for accurate non-destructive testing of electronic equipment

Development of a multi-axis cone beam CT for accurate non-destructive testing of electronic equipment
开发用于电子设备精确无损检测的多轴锥形束CT
批准号:
20K14753
负责人:
Kano Toru
金额:
$2.66万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
财政年份:
2020
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2020-04-01 至 2023-03-31

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通讯作者: 赤倉貴子
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作者: [宮岡慧, 加納徹, 小関道彦, 赤倉貴子]
通讯作者: 赤倉貴子
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通讯作者: 加納 徹
Development of a multi-axis X-ray CT for highly accurate inspection of electronic devices
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