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Development of a multi-axis X-ray CT for highly accurate inspection of electronic devices

Development of a multi-axis X-ray CT for highly accurate inspection of electronic devices
开发用于电子设备高精度检查的多轴 X 射线 CT
批准号：
17K18188
负责人：
Kano Toru
金额：
$2.16万
依托单位：
Tokyo University of Science (2019)Tokyo University of Technology (2017-2018)
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
财政年份：
2017
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2017-04-01 至 2020-03-31
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-17K18188/
关键词：
非破壊検査X線CTメタルアーチファクト計測画像再構成計測工学Ｘ線ＣＴ

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通讯作者： 赤倉貴子
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期刊：
影响因子： --
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通讯作者： 加納 徹
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DOI： --
发表时间： 2018
期刊：
影响因子： --
作者： [Akira TAKEBAYASHI, Toru KANO, Hiroaki YAMAMOTO and Shohei KASUGAI, Toru KANO and Michihiko KOSEKI]
通讯作者： Toru KANO and Michihiko KOSEKI
共 7 条
    Development of a multi-axis cone beam CT for accurate non-destructive testing of electronic equipment
    • 批准号：
      20K14753
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
    • 资助金额：
      $2.66万
    • 财政年份：
      2020
    • 负责人：
      Kano Toru
    • 依托单位：
      Tokyo University of Science
    海外基金