Development of a method for visualising chemical bonds in the local area using scanning transmission electron microscopy.
Development of a method for visualising chemical bonds in the local area using scanning transmission electron microscopy.
开发一种使用扫描透射电子显微镜观察局部化学键的方法。
批准号：
20K15014
负责人：
Seki Takehito
金额：
$2.75万
依托单位：
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
财政年份：
2020
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2020-04-01 至 2023-03-31
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Quantitative electric field mapping in semiconductor heterostructures via tilt-scan averaged DPC STEM
通过倾斜扫描平均 DPC STEM 进行半导体异质结构的定量电场测绘
通过倾斜扫描平均 DPC STEM 进行半导体异质结构的定量电场测绘
DOI：
10.1016/j.ultramic.2022.113538
发表时间：
2022
期刊：
Ultramicroscopy
影响因子：
2.2
作者：
[Satoko Toyama, Takehito Seki, Yuya Kanitani, Yoshihiro Kudo, Shigetaka Tomiya, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata]
通讯作者：
Naoya Shibata
Factors limiting quantitative phase retrieval in atomic-resolution differential phase contrast scanning transmission electron microscopy using a segmented detector
使用分段探测器进行原子分辨率微分相衬扫描透射电子显微镜定量相位检索的限制因素
使用分段探测器进行原子分辨率微分相衬扫描透射电子显微镜定量相位检索的限制因素
DOI：
10.1016/j.ultramic.2021.113457
发表时间：
2022
期刊：
Ultramicroscopy
影响因子：
2.2
作者：
[Mawson T., Taplin D.J., Brown H.G., Clark L., Ishikawa R., Seki T., Ikuhara Y., Shibata N., Paganin D.M., Morgan M.J., Weyland M., Petersen T.C., Findlay S.D.]
通讯作者：
Findlay S.D.
無磁場原子分解能 STEM による原子・磁気構造解析
使用无磁场原子分辨率 STEM 进行原子和磁性结构分析
使用无磁场原子分辨率 STEM 进行原子和磁性结构分析
DOI：
--
发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
--
作者：
[関 岳人, 河野 祐二, フィンドレイ スコット, 二塚俊洋, 幾原 雄一, 柴田 直哉]
通讯作者：
柴田 直哉
Ultra-high Contrast Imaging in Scanning Transmission Electron Microscopy
扫描透射电子显微镜中的超高对比度成像
扫描透射电子显微镜中的超高对比度成像
DOI：
--
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
作者：
[T. Seki, K. Ooe, Y. Ikuhara, N. Shibata]
通讯作者：
N. Shibata
超高感度原子イメージング手法の開発と電子線敏感材料研究への応用
超灵敏原子成像方法发展及其在电子束敏感材料研究中的应用
超灵敏原子成像方法发展及其在电子束敏感材料研究中的应用
DOI：
--
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
作者：
[大江 耕介, 関 岳人, 幾原 雄一, 柴田直哉]
通讯作者：
柴田直哉
共 64 条