The discovery and elucidation of locked false turn on phenomenon

锁定误开机现象的发现与解析

• 批准号: 19K14976
• 负责人: Nanamori Kimihiro
• 金额: $ 2.16万
• 依托单位: Maizuru National College of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
• 财政年份: 2019
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2019-04-01 至 2021-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-19K14976/
• 关键词: 誤点弧ロック現象; 誤点弧; GaN; 近接配線; 並列接続

项目成果

GaNデバイスの並列接続時における特性差の検証

验证GaN器件并联时的特性差异

• 发表时间: 2021
• 作者: Komatsu Kazuki;Miyaji Yuichi;Uehara Hideyuki;大谷 俊介，平井 太智，黒田 勇幹，矢吹 佳子，山野井 佑介，東郷 俊太，姜 銀来，横井 浩史;熊谷鷹・七森公碩・内海淳志・中川重康
• 通讯作者: 熊谷鷹・七森公碩・内海淳志・中川重康

近接配線によるゲート電圧保持現象の検証

验证相邻布线导致的栅极电压保持现象

• 发表时间: 2021
• 作者: Ryuji Kuse;Takeshi Fukusako;Akira Matsushima;松本瀬名・七森公碩
• 通讯作者: 松本瀬名・七森公碩