A digital temperature and voltage sensor that can reduce effects of degradation in VLSIs

数字温度和电压传感器可减少 VLSI 退化的影响

• 批准号: 19K20236
• 负责人: Miyake Yousuke
• 金额: $ 2.66万
• 依托单位: Kyushu Institute of Technology
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
• 财政年份: 2019
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2019-04-01 至 2022-03-31
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-19K20236/
• 关键词: 温度センサ; 電圧センサ; 劣化; リングオシレータ; LSIテスト; フィールドテスト; VLSI設計技術; ディペンダブル・コンピューティング; デジタルセンサ; NBTI劣化; 信頼性試験; 計算機システム; 情報工学

项目成果

勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について

使用梯度下降法预测电路延迟退化

• 发表时间: 2020
• 作者: 森誠一郎;権藤昌之;三宅庸資;加藤隆明;梶原誠司
• 通讯作者: 梶原誠司

フィールドテスト向けオンチップ遅延測定回路のIoT適用

用于现场测试的片上延迟测量电路的物联网应用

• 发表时间: 2020
• 作者: 三宅庸資;梶原誠司
• 通讯作者: 梶原誠司

長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測

在长期可靠性测试期间使用片上延迟测量来观察劣化

• 发表时间: 2019
• 作者: 三宅庸資;加藤隆明;梶原誠司;麻生正雄;二見治司;松永恵士;三浦幸也
• 通讯作者: 三浦幸也

On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test And Its Application to A Digital Sensor

耐老化环形振荡器加速寿命评价及其在数字传感器中的应用

• DOI: 10.1109/ats49688.2020.9301588
• 发表时间: 2020
• 期刊: Proc. IEEE Asian Test Symposium
• 作者: Masayuki Gondo;Yousuke Miyake;Takaaki Kato;Seiji Kajihara
• 通讯作者: Seiji Kajihara

回路の動作状況の違いに伴う劣化予測モデル更新の有効性について

关于由于电路工作条件的差异而更新退化预测模型的有效性

• 发表时间: 2021
• 作者: 権藤昌之;三宅庸資;加藤隆明;梶原誠司
• 通讯作者: 梶原誠司