A digital temperature and voltage sensor that can reduce effects of degradation in VLSIs
A digital temperature and voltage sensor that can reduce effects of degradation in VLSIs
数字温度和电压传感器可减少 VLSI 退化的影响
批准号：
19K20236
负责人：
Miyake Yousuke
金额：
$2.66万
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Early-Career Scientists
财政年份：
2019
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2019-04-01 至 2022-03-31
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勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について
使用梯度下降法预测电路延迟退化
使用梯度下降法预测电路延迟退化
DOI：
--
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
作者：
[森誠一郎, 権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司]
通讯作者：
梶原誠司
フィールドテスト向けオンチップ遅延測定回路のIoT適用
用于现场测试的片上延迟测量电路的物联网应用
用于现场测试的片上延迟测量电路的物联网应用
DOI：
--
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
作者：
[三宅庸資, 梶原誠司]
通讯作者：
梶原誠司
On Evaluation for Aging-Tolerant Ring Oscillators with Accelerated Life Test And Its Application to A Digital Sensor
耐老化环形振荡器加速寿命评价及其在数字传感器中的应用
耐老化环形振荡器加速寿命评价及其在数字传感器中的应用
DOI：
10.1109/ats49688.2020.9301588
发表时间：
2020
期刊：
Proc. IEEE Asian Test Symposium
影响因子：
--
作者：
[Masayuki Gondo, Yousuke Miyake, Takaaki Kato, Seiji Kajihara]
通讯作者：
Seiji Kajihara
長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測
在长期可靠性测试期间使用片上延迟测量来观察劣化
在长期可靠性测试期间使用片上延迟测量来观察劣化
DOI：
--
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
作者：
[三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司, 麻生正雄, 二見治司, 松永恵士, 三浦幸也]
通讯作者：
三浦幸也
回路の動作状況の違いに伴う劣化予測モデル更新の有効性について
关于由于电路工作条件的差异而更新退化预测模型的有效性
关于由于电路工作条件的差异而更新退化预测模型的有效性
DOI：
--
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
作者：
[権藤昌之, 三宅庸資, 加藤隆明, 梶原誠司]
通讯作者：
梶原誠司
共 15 条